田口式品質工程方法
田口玄一博士(Dr. G. Taguchi)所倡導的品質工程，與穩健性設計 ( Robust Design )概念相同，是一種透過製程參數條件最適化來進行品質改善的方法，稱為田口方法(Taguchi Methods) 或田口品質工程，而其基本概念是以社會損失成本做為衡量產品品質的依據，強調在產品或製程設計時就考慮品質問題，運用穩健性設計找到使產品變異縮小的設計或製程參數組合，使得產品品質的問題對社會所造成的平均損失成本最小。田口博士認為會對輸出品質特性產生影響的參數，可以分為信號因子（Signal Factor）、控制因子(Controllable Factors)、雜音因子(Noise Factor)三種因子類型，而其中會使產品品質產生變異性的原因，則為雜音因子，三種因子類型內容簡述如下:
(一)信號因子：當品質特性改變時，可以調整信號因子，使品質特性目標值一致。
(二)控制因子：由產品使用者或製程操作者自行調整，能使品質特性變數增減的因子。
(三)雜音因子：製造過程中無法控制的因子，其來源主要有外部雜音、內部雜音、產品間雜音三種。
田口博士認為品質是對機能變異的評價，而不是對機能本身的評價，當產品未發揮產品原有設計之機能時就會產生品質損失，與傳統的品質觀念不同，傳統品質觀念認為當品質特性介於品質允差上下限之間時，品質損失為零，在田口式品質工程中，不論產品特性相對於目標值而言，是產生負值或正值，只要產品特性偏離機能目標值就是損失，這樣的觀念可以用品質損失函數的方式表示：
品質損失函數 L(y) = K (y-m)2
其中L代表產品性能的損失，K代表常數，y代表產品功能特性，m代表目標值，其概念如傳統品質損失與田口式品質損失比較圖所示。
依據上述之概念來看，田口博士認為品質可以透過信號雜訊比（Signal-to-Noise, S/N比）來評估， S/N比可以反應品質特性的變異，同時與品質特性平均值的調整無關[7]，S/N比之值愈大，表示品質特性值之變異愈小，且愈接近目標值，依據品質損失函數的概念來看，田口博士認為不同的品質特性之S/N比可分成下列四種型態：(一)望小特性（Smaller the better, STB）：品質功能特性y 為非負值，且值越小越好，最好為零，望小型S/N比定義：S/NSTB = -10*log10 (1/n ΣYi2)。
(二)望大特性（Larger the better, LTB）：品質功能特性y 為非負值，且值越大越好，品質目標值最大化，望大型S/N比定義：S/NLTB = -10*log10 (1/n Σ(1/Yi)2)。
(三)望目特性（Nominal the best, NTB）：品質功能特性y為有限定的目標值，品質目標比目標值大或小都不好，期望值能趨近於目標值，望目型S/N比定義：S/NNTB = 10*log10 ( y2/ s2)。
(四)符號望目特性（Signed Target Type, STT）：品質功能特性y 為連續且其值可正可負，目標值通常為零或選用一適當的參考值使目標值為零，平均值為零時，標準差不為零，符號望目型S/N比定義：S/NSTT=-10*log10(s 2)。
在產品或製程設計階段中，田口博士將品質工程分成三階段設計，以達到產品穩健性：
(一)第一階段系統設計(System Design)：由工程人員依據專業知識、經驗與相互討論，決定產品或參數設計概念。
(二)第二階段參數設計(Parameter Design)：選定相關產品製程參數，經由直交配置並執行實驗，其目的在於使產品對於雜訊因子(Noise Factor)干擾敏感度較低，以減少產品品質變異
(三)第三階段允差設計(Tolerance Design)：針對製程作業條件和產品變異原因分解，決定其公差範圍。
